龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：中国科学技术大学
摘要：本发明公开了一种用于微米级薄膜测量的正电子湮没符合多普勒展宽谱仪，包括高纯锗探测器模块、反符合探测器模块、脉冲采集模块、以及数据处理模块；其中，高纯锗探测器模块，用于测量正电子湮没背对背发射的湮没伽马光子对的能量，进而得到两个湮没伽马光子的多普勒展宽；反符合探测器模块，用于确定正电子的湮没位置，实现微米薄膜样品的测量；脉冲采集模块，用于对来自高纯锗探测器模块和反符合探测器模块的脉冲进行采样；数据处理模块，用于对数字脉冲数据进行在线处理和逻辑判断。本发明具有多功能集成和重构特性，节省谱仪成本，通过数字化脉冲波形处理降低错误示例率，给谱仪带来更优秀的性能。
主权项：1.一种用于微米级薄膜测量的正电子湮没符合多普勒展宽谱仪，其特征在于，所述正电子湮没符合多普勒展宽谱仪包括高纯锗探测器模块、反符合探测器模块、脉冲采集模块、以及数据处理模块；其中，高纯锗探测器模块，用于测量正电子湮没背对背发射的湮没伽马光子对的能量，得到两个湮没伽马光子的多普勒展宽；反符合探测器模块，用于确定薄膜样品和正电子源，或塑料闪烁体的正电子的湮没位置，实现微米薄膜样品的测量；脉冲采集模块，用于对来自高纯锗探测器模块和反符合探测器模块的脉冲进行采样，并将数字脉冲数据传输至计算机；数据处理模块，用于对数字脉冲数据进行在线处理和逻辑判断，保留在薄膜样品或正电子源内湮没的事例，得到薄膜样品的二维多普勒展宽谱。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学技术大学 一种用于微米级薄膜测量的正电子湮没符合多普勒展宽谱仪
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号