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申请/专利权人：中国测试技术研究院辐射研究所
摘要：本发明涉及医学影像仪器校准技术领域，公开了一种DAP仪实验室校准方法。在X辐射源出束后的一级准直器和二级准直器之间指定位置放置透射式电离室，建立符合要求的标准辐射场；不同RQR系列或RQR+DAP自身过滤辐射质下，通过测定透射式电离室和标准电离室相同时间内的累积剂量，获得两者经过校准因子和空气密度修正读数的比值表格；校准时把被校DAP仪放置于测试平面处，记录相应辐射质下透射式电离室和被校DAP仪的读数；根据被校DAP仪的型号和所选的辐射质，找寻比值表格中相应的比值；计算被校DAP仪的校准因子、重复性和能响。本发明能够减小由于辐射场稳定性和重复性对被校DAP仪的影响，方便实时获得DAP仪的校准结果，检测效率高，重复性结果极好。
主权项：1.一种DAP仪实验室校准方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：建立标准辐射场在X辐射源1出束一侧放置一级准直器2和二级准直器4，在测试平面7和二级准直器4之间指定位置放置面积准直器6；在一级准直器2和二级准直器4之间指定位置放置透射式电离室3，建立符合要求的标准辐射场；步骤2：测定比值将标准电离室8放置于面积准直器6后的测试平面7处；设置过滤条件和曝光条件，使得辐射质满足标准辐射场参数的要求；每种RQR系列辐射质下，辐射源出束稳定后，开启透射式电离室3和标准电离室8测量累积剂量，两者测量时间一致，计算两者读数的比值Ki；将把被校DAP仪5放置于二级准直器4后指定距离处，使其处于辐射场中心位置；重复累积剂量的测量过程，并计算透射式电离室3和标准电离室8读数的比值Kj；把Ki和Kj根据不同RQR系列辐射质、不同厂家或者型号的被校DAP仪5制成比值表格；步骤3：获得校准结果校准时，撤去标准电离室8，把被校DAP仪5放置于面积准直器6后的测试平面7处，辐射源处于连续工作模式，记录相应辐射质时候透射式电离室3的空气比释动能读数Ka和被校DAP仪5读数M；根据被校DAP仪5的型号和所选的辐射质，自动找寻比值表格中相应DAP仪型号和辐射质对应的Ki值和Kj值；计算得到被校DAP仪5的校准因子重复性s和能响Ei。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国测试技术研究院辐射研究所 一种DAP仪实验室校准方法
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