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申请/专利权人：山西银光华盛镁业股份有限公司
摘要：本发明涉及半连续铸锭技术领域，具体涉及一种镁合金半连续铸锭偏析层检测方法；取样，去除头尾料，分别从铸锭剩余长度方向切取头部、中部、尾部三个切片；制样，对头部、中部、尾部三个切片进行机加工铣面，分别得到头部切片样品、中部切片样品和尾部切片样品；X射线检测；评判，对X光检测底片进行炉号及对应的头部、中部、尾部进行标记，在光照灯下查看样品缺陷分布情况、面积大小及数量多少，通过上述方式，解决镁合金变形后成品率低，变形加工成本高的问题。
主权项：1.一种镁合金半连续铸锭偏析层检测方法，其特征在于，包括如下步骤：取样，去除头尾料，分别从铸锭剩余长度方向切取头部、中部、尾部三个切片；制样，对头部、中部、尾部三个切片进行机加工铣面，分别得到头部切片样品、中部切片样品和尾部切片样品；X射线检测；评判，对X光检测底片进行炉号及对应的头部、中部、尾部进行标记，在光照灯下查看样品缺陷分布情况、面积大小及数量多少。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 山西银光华盛镁业股份有限公司 一种镁合金半连续铸锭偏析层检测方法
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