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一种非整周期采样的DFT计算方法及装置 

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申请/专利权人:成都英杰晨晖科技有限公司

摘要:本发明涉及射频信号处理技术领域,特别是一种非整周期采样的DFT计算方法及装置。方法包括以下步骤:按照预设的采样频率对所述射频信号采样得到非整周期采样数据;对于所述射频信号的每一个周期,获取该周期内采样点对应的周期内的采样值,对周期内的采样值进行DFT计算,得到第一信号参数值;获取该周期最后一个采样点之后的采样点对应的采样值作为增补采样值,将所述周期内的采样值与所述增补采样值合并后进行DFT计算,得到第二信号参数值;将所述第一信号参数值和所述第二信号参数值加权求和之后得到修正后的信号参数值。本发明的方法有效减少频谱泄露造成的波动,其中计算公式简单,计算延时小,使用到硬件少,减少成本。

主权项:1.一种非整周期采样的DFT计算方法,其特征在于,包括以下步骤:按照预设的采样频率对射频信号进行采样得到采样数据,所述采样数据为非整周期采样数据;对于所述射频信号的每一个周期,获取该周期内采样点对应的周期内的采样值,对所述周期内的采样值进行DFT计算,得到第一信号参数值;获取该周期最后一个采样点之后的采样点对应的采样值作为增补采样值,将所述周期内的采样值与所述增补采样值合并后进行DFT计算,得到第二信号参数值;将所述第一信号参数值和所述第二信号参数值加权求和之后得到修正后的信号参数值;所述第一信号参数值的计算公式为:实部为:虚部为:所述第二信号参数值的计算公式为:实部为:虚部为:所述修正后的信号参数值为:实部为: 虚部为: 式中,w为基波角频率,N为在第一信号参数值中倍数值的整数部分,n∈N,ak和bk称为傅里叶系数,k是谐波次数,为采样数据,Y为第一信号参数值中倍数值的小数部分;获取所述增补采样值包括获取该周期最后一个采样点之后最接近的一个采样点对应的采样值作为增补采样值。

全文数据:

权利要求:

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