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基于有序模式特征分析的零样本复合控制图模式识别方法 

申请/专利权人:北京航空航天大学

申请日:2024-04-28

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN118296438A

主分类号:G06F18/24

分类号:G06F18/24;G06F18/2433;G06F18/211;G06F18/214;G06F123/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开

摘要:一种基于有序模式特征分析的零样本复合控制图模式识别方法,包括:步骤一:数据采集与生成:采集制造过程中的受控数据,并生成控制图模式CCP样本集;步骤二:建立异常情境的属性编码:CCP样本的每种单一异常表示一种异常属性,得到所有CCP样本的实际0‑1属性编码;步骤三:提取所述训练集中的单一CCP样本的有序模式OP特征集;步骤四:选择单一异常属性的最佳时间延迟参数;步骤五:训练单一异常属性的属性分类器:为每种单一异常属性训练对应的单一异常属性分类器;步骤六:零样本复合异常属性CCP异常识别:将待识别CCP样本的预测0‑1属性编码与其实际0‑1属性编码比较,判断待识别CCP样本是否具有某种异常属性,实现零样本复合异常属性CCP的异常识别。

主权项:1.一种基于有序模式特征分析的零样本复合控制图模式识别方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一:数据采集与生成:采集制造过程中的受控数据,并利用蒙特卡洛方法生成控制图模式CCP样本集,该CCP样本集包括单一控制图模式CCP样本和复合控制图模式CCP样本,其中将该单一CCP样本划分为可见集并且将该复合CCP样本划分为不可见集,该可见集包括单一异常属性CCP样本和正常模式样本,该不可见集包括复合异常属性CCP样本,以及根据模型训练要求将所述CCP样本划分为训练集和测试集,其中所述训练集包括所述可见集中的部分单一CCP样本,所述测试集包括所述可见集中的其余单一CCP样本和不可见集中的复合CCP样本;步骤二:建立异常情境的属性编码:CCP样本的每种单一异常表示一种异常属性,采用独热编码方式对步骤一中所述采集的制造过程中的CCP样本集中的单一异常属性CCP样本的单一异常属性进行属性编码,进而得到包括各正常模式样本、单一异常属性CCP样本和复合异常CCP样本的所有CCP样本的0-1编码,即实际0-1属性编码;步骤三:提取所述训练集中的单一CCP样本的有序模式OP特征集:根据不同的时间延迟参数τ,提取所述训练集中的单一CCP样本在不同观测尺度下的OP特征,构成对应单一CCP样本的OP特征集;步骤四:选择单一异常属性的最佳时间延迟参数τb:建立不同异常属性的差异性度量函数,从所述训练集中选择某一类单一异常属性CCP样本与其他类单一异常属性CCP样本差异度最大的时间延迟参数τ为最佳时间延迟参数τb,该最佳时间延迟参数τb所对应的OP特征为该类单一异常属性CCP样本的OP特征子集,从而获得所述实际0-1属性编码的向量中的每一维度的0-1编码对应的最佳时间延迟参数τb与OP特征子集;步骤五:训练单一异常属性的属性分类器:将步骤四得到的训练集中的单一异常属性CCP样本的OP特征子集作为属性分类器的输入,以及将通过步骤二获得的该单一异常属性CCP样本的实际0-1属性编码的向量的每一维度的值作为对应属性分类器的输入,为每种单一异常属性训练对应的单一异常属性分类器;步骤六:零样本复合异常属性CCP异常识别:对于所述测试集中的待识别CCP样本,首先将各单一异常属性的经由步骤四所获得的该单一异常属性CCP样本的OP特征子集,输入到由步骤五获得的单一异常属性分类器,获得一串相应的预测0-1属性编码,将所述待识别CCP样本的该预测0-1属性编码与该待识别CCP样本经由步骤二所得到的实际0-1属性编码进行比较,判断该待识别CCP样本是否具有某种异常属性或所具有的异常属性类别,实现零样本复合异常属性CCP的异常识别。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京航空航天大学 基于有序模式特征分析的零样本复合控制图模式识别方法

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