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申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所
摘要：本发明公开一种毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备和方法，包括：第一参考负载，用于提供第一温度的噪声，第二参考负载，用于提供第二温度的噪声；所述第一温度小于第二温度；主极化栅网，用于实现第一参考负载和第二参考负载噪声分量的极化分离与合成，得到第一参考负载的噪声垂直和平行极化分量、第二参考负载的噪声垂直和平行极化分量；辅助极化栅网，用于屏蔽进入辐射计的第二参考负载的噪声垂直极化分量；测温装置，用于测量第一参考负载和第二参考负载的物理温度；转动结构，用于控制毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备本身进行转动，以控制辐射计的接收天线极化方向与主极化栅网线栅方向的相对角度。本发明测量速度快，误差小。
主权项：1.一种毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备，其特征在于，包括：第一参考负载、第二参考负载、主极化栅网、辅助极化栅网、测温装置和转动结构，其中所述第一参考负载，用于提供第一温度的噪声，所述第二参考负载，用于提供第二温度的噪声；所述第一温度小于第二温度；所述主极化栅网，用于实现第一参考负载和第二参考负载噪声分量的极化分离与合成，得到第一参考负载的噪声垂直和平行极化分量、第二参考负载的噪声垂直和平行极化分量；所述辅助极化栅网，用于屏蔽进入辐射计的第二参考负载的噪声垂直极化分量；所述测温装置，用于测量第一参考负载和第二参考负载的物理温度；所述转动结构，用于控制毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备本身进行转动，以控制辐射计的接收天线极化方向与主极化栅网线栅方向的相对角度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种毫米波及太赫兹辐射计线性度测量设备和方法
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