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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日：2024-03-14
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294110A
主分类号：G01M11/02
分类号：G01M11/02;G02B27/00;H01S3/08;H01S3/10;H01S3/105
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.07.05#公开
摘要：本发明提供了一种基于菲涅尔菱形棱镜的F‑P标准具及设计方法，具体涉及测试技术领域。本发明利用菲涅尔菱形棱镜的端面所围成的F‑P腔作为F‑P标准具进行波长锁定，配套提供了F‑P标准具的设计方法，通过获取菲涅尔菱形棱镜中P光和S光全内反射的相位延迟，确定F‑P标准具所透过光线中P光和S光的相位差周期，结合菲涅尔菱形棱镜入射端面、出射端面的反射率以及材料吸收损耗，计算F‑P标准具的镀膜反射率和透过率，从而将菲涅尔菱形棱镜改造为F‑P标准具，替代双F‑P标准具进行波长锁定。本发明利用菲涅尔菱形棱镜替代双F‑P标准具进行波长锁定，结构简单且成本低廉，克服了环境因素对波长锁定测量稳定性的影响，实现了对宽波长范围、高稳定性波长的锁定功能。
主权项：1.一种基于菲涅尔菱形棱镜的F-P标准具，其特征在于，所述菲涅尔菱形棱镜的入射端面和出射端面相互平行且均设置有反射膜，菲涅尔菱形棱镜的入射端面、出射端面、顶面和底面所围成的腔体为F-P腔，利用F-P腔作为F-P标准具进行波长锁定。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于菲涅尔菱形棱镜的F-P标准具及设计方法
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