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申请/专利权人：华南理工大学
摘要：本发明公开了一种基于改进FCOS网络的柔性IC基板表面缺陷识别方法，包括采集图片、扩充图片数据集、标注图片、对改进的FCOS网络进行训练与验证、利用FCOS网络进行识别等步骤。其中，对FCOS网络的改进包括：在FCOS网络中的上采样部分，用PixelShuffle算法取代原本的最近邻插值算法；在FCOS网络中每个检测头Head前都加入通道注意力模块；在FCOS网络的FPN后引入Maxpool_BPA环节。最后，通过测试本发明中改进后的FCOS网络，在检测柔性IC基板表面缺陷的情景下，其相较原网络的召回率提高了4％，mAP提高了4.9％。
主权项：1.基于改进FCOS网络的柔性IC基板表面缺陷识别方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、采集被测柔性IC基板的表面缺陷图片；步骤二、对采集到的缺陷图片进行扩充；步骤三、对得到的缺陷图片进行标注，得到柔性IC基板的表面缺陷数据集；步骤四、利用柔性IC基板的表面缺陷数据集对改进的FCOS网络进行训练及测试；步骤五、利用训练好的改进的FCOS网络对待检测的图片进行缺陷检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南理工大学 基于改进FCOS网络的柔性IC基板表面缺陷识别方法
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