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量测仪器校正系统及量测仪器校正方法 

申请/专利权人:致茂电子(苏州)有限公司

申请日:2022-12-26

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118258835A

主分类号:G01N23/2202

分类号:G01N23/2202;G01N23/2251

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:一种量测仪器校正系统及量测仪器校正方法,量测仪器校正系统包含标准治具、探针组以及移动装置。标准治具包含多个标准件及印刷电路板。所述多个标准件的每一者的规格不相同,并设置于印刷电路板上。印刷电路板包含多个贯穿孔,其中所述多个贯穿孔的其中之一邻近所述多个标准件的其中之一。探针组连接于量测仪器。移动装置连接于标准治具,并用以移动标准治具以将所述多个标准件的其中之一连接于探针组,借以通过所述多个标准件的其中之一以校正量测仪器。本案实施例所示的量测仪器校正系统可将多个标准件整合于一标准治具中,再通过移动装置来移动标准治具以使用相应的标准件对准探针组,借以校正量测仪器的一个档位。

主权项:1.一种量测仪器校正系统,其特征在于,包含:一标准治具,包含:多个标准件,其中所述多个标准件的每一者的规格不相同;以及一印刷电路板,用以设置所述多个标准件,包含:多个贯穿孔,其中所述多个贯穿孔的其中之一邻近所述多个标准件的其中之一;一探针组,连接于一量测仪器;以及一移动装置,连接于该标准治具,并用以移动该标准治具以将所述多个标准件的其中之一连接于该探针组,借以通过所述多个标准件的其中之一以校正该量测仪器。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 致茂电子(苏州)有限公司 量测仪器校正系统及量测仪器校正方法

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