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申请/专利权人：合肥高晶光电科技有限公司
申请日：2024-03-28
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118261787A
主分类号：G06T3/4023
分类号：G06T3/4023;G06T5/80;G06T7/33;G06T7/13
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明公开了一种适用于多光谱相机图像配准的高精度亚像素插值方法，涉及图像配准技术领域，解决了现有技术对多光谱相机图像配准进行了很大的优化和改进，但没有考虑相机中的透镜或镜头的畸变，导致特征点之间的亚像素位移计算不准确，从而会导致边缘的平滑过渡和形变，出现失真现象的技术问题；本发明通过利用多光谱相机采集目标区域的图像数据，并使用预设参数识别方法获取多光谱相机对应透镜的畸变参数；基于获得的畸变参数构建了畸变校正模型；畸变校正模型利用畸变迭代公式将待配准图像进行校正，从而解决了由于相机中的透镜或镜头引起的畸变，导致特征点之间的亚像素位移计算不准确的问题。
主权项：1.一种适用于多光谱相机图像配准的高精度亚像素插值方法，其特征在于，包括：步骤一：利用多光谱相机采集目标区域若干采集角度的图像数据；对图像数据进行预处理，筛选出图像质量最高的作为参考图像，其余图像数据作为待配准图像；步骤二：基于预设参数识别方法获取所使用多光谱相机对应透镜的畸变参数；基于畸变参数构建畸变校正模型，通过畸变校正模型对待配准图像进行校正，得到校正图像；其中，预设参数识别方法包括相机标定法或者透镜参数估计法，畸变参数包括径向畸变参数和切向畸变参数；步骤三：基于亚像素插值方法对校正图像进行插值修正，得到目标图像；其中，亚像素插值方法包括双线性插值方法或双立方插值方法；步骤四：基于特征点检测算法提取目标图像中的特征点以及对应的描述子；其中，特征点检测算法包括Harris角点检测、SIFT算法或SURF算法；步骤五：通过特征匹配算法匹配目标图像中的特征点，得到匹配结果；根据匹配结果计算待配准图像到参考图像的图像变换矩阵，对待配准图像进行配准；其中，特征匹配算法包括AKAZE算法、RANSAC算法或最近邻算法。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥高晶光电科技有限公司 一种适用于多光谱相机图像配准的高精度亚像素插值方法
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