申请/专利权人:中科纳米张家港化合物半导体研究所
申请日:2023-12-06
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN221201761U
主分类号:H01S5/40
分类号:H01S5/40;H01S5/42;H01S5/026
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.21#授权
摘要:本申请公开了一种硅衬底III‑V面阵器件,包括硅001衬底,第一表面上设有盲孔,盲孔包括四棱锥形孔段和倒四棱锥形孔段,四棱锥形孔段的锥底端与倒四棱锥形孔段的锥底端连接为一体;氧化层,布置在第一表面上,设有与盲孔一一对应连接的通孔;器件单元,布置在对应的盲孔和通孔内。本申请在硅衬底表面刻蚀得到由四棱锥形孔段和四棱倒锥形孔段连接组成的第二刻蚀孔,异质界面缺陷延伸至器件结构中,抑制晶格失配造成的穿透位错,有效降低缺陷;沿倒锥形段内壁斜面平行方向缺陷被锥形孔段侧壁阻挡,提高晶体质量,提高器件的性能,降低工艺复杂性,避免器件侧壁漏电,提高单元器件性能。
主权项:1.一种硅衬底III-V面阵器件,其特征在于,包括:硅001衬底,包括相背设置的第一表面和第二表面,所述第一表面上设有与所述面阵器件的器件单元一一对应的盲孔,所述盲孔包括沿所述第一表面指向所述第二表面的方向上依次设置的四棱锥形孔段和倒四棱锥形孔段,所述四棱锥形孔段的锥角指向所述第一表面设置,且所述四棱锥形孔段的锥角端延伸至所述第一表面,所述倒四棱锥形孔段的锥角指向所述第二表面设置,且所述四棱锥形孔段的锥底端与所述倒四棱锥形孔段的锥底端连接为一体;氧化层,布置在所述第一表面上,所述氧化层上设有与所述盲孔一一对应连接的通孔;器件单元,布置在对应的所述盲孔和所述通孔内。
全文数据:
权利要求:
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