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一种集成电路的Memory集成方法 

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申请/专利权人:成都电科星拓科技有限公司

摘要:本发明提供了一种集成电路的Memory集成方法,包括:建立通用用户需求表与实例化Memory通用接口;对通用用户需求表中用户需求进行分解,确定总面积最小的物理Memory;通过功能分工对Memory进行层次化封装。本发明能够针对工艺、供应商不同的Memory工具,结合项目的具体Memory需求,屏蔽底层实现,建立通用Memory的顶层,在项目中方便明了调用通用顶层,提高项目的Memory集成效率,满足项目在前期验证、后期综合的使用,提升集成电路项目的研发管理水平。本发明可以应用在所有芯片开发项目中。

主权项:1.一种集成电路的Memory集成方法,其特征在于,包括:建立通用用户需求表与实例化Memory通用接口;对通用用户需求表中用户需求进行分解,确定总面积最小的物理Memory;通过功能分工对物理Memory进行层次化封装;所述通过功能分工对物理Memory进行层次化封装过程为:第一层:物理层封装,针对不同的物理Memory进行封装,并屏蔽物理层细节;第二层:物理层面到用户需求层面的封装,将拆分的物理Memory调整为用户需求对应的Memory;第三层:将同类型的Memory通过不同参数进行实例化,所有同类型Memory调用同一个文件模块;第四层:封装FPGA和EDA仿真模型文件,并宏定义隔开。

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