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申请/专利权人：日东电工株式会社
摘要：本发明提供能够以良好的灵敏度检查λ4板的缺点的缺点方法。本发明的λ4板的缺点检查方法包括：将第一起偏器、第一λ4板、第二λ4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，使该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴正交，使该第一λ4板的慢轴与该第二λ4板的慢轴正交，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，并且，将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，包括将该第一λ4板的波长分散特性与该第二λ4板的波长分散特性设定为大致相同。
主权项：1.一种λ4板的缺点检查方法，其包括：将第一起偏器、第一λ4板、第二λ4板和第二起偏器依次配置；及从该第一起偏器侧的面入射光，并对该第二起偏器侧的面的外观进行观察，使该第一起偏器的吸收轴与该第二起偏器的吸收轴正交，使该第一λ4板的慢轴与该第二λ4板的慢轴正交，将该第一起偏器的吸收轴与该第一λ4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，并且，将该第二起偏器的吸收轴与该第二λ4板的慢轴所成的角设定为35°～55°，包括将该第一λ4板的波长分散特性与该第二λ4板的波长分散特性设定为大致相同。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 日东电工株式会社 λ/4板的缺点检查方法
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