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申请/专利权人：普冉半导体(上海)股份有限公司
摘要：本申请涉及一种针卡最优layout选择方法及系统，依次通过获取设定的初始layout，其中，所述初始layout的数量为多个；获取待测晶圆map，计算根据各所述初始layout测试所述待测晶圆map所需的理论测试总数，其中，一个所述理论测试总数对应一个所述初始layout；根据各所述理论测试总数生成最优layout，其中，所述最优layout对应各所述理论测试总数中数目最小的理论测试总数，进而实现最优layout的选定以及提升生产效率。
主权项：1.一种针卡最优layout选择方法，其特征在于，所述方法包括：获取设定的初始layout，其中，所述初始layout的数量为多个；获取待测晶圆map，计算根据各所述初始layout测试所述待测晶圆map所需的理论测试总数，其中，一个所述理论测试总数对应一个所述初始layout；根据各所述理论测试总数生成最优layout，其中，所述最优layout对应各所述理论测试总数中数目最小的理论测试总数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 普冉半导体(上海)股份有限公司 针卡最优layout选择方法及系统
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