龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：杭州电子科技大学
摘要：本发明公开了提取SuperDARN雷达电离层对流图像不对称性的方法及系统，本发明方法包括以下步骤：步骤1：获取SuperDARN雷达观测数据和OMNI卫星观测数据并进行预处理；步骤2：将OMNI卫星观测数据和SuperDARN雷达观测数据匹配并对齐构成数据集；步骤3：使用曲面拟合法拟合出最优曲面并通过插值方式绘制对流图像；步骤4：通过最大电势点和最小电势点的位置，计算斜率和对应的倾斜角，对对流图像进行翻转；步骤5：使用曲面拟合法绘制翻转后的对流图像；步骤6：通过相关参数对原始图像和翻转图像进行评估；步骤7：采用不对称性指标对对流图像的不对称性进行评价。本发明能客观地说明对流图像的两个半球间的不对称性。
主权项：1.提取SuperDARN雷达电离层对流图像不对称性的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：获取SuperDARN雷达观测数据和OMNI卫星观测数据并进行预处理；步骤2：将OMNI卫星观测数据和SuperDARN雷达观测数据匹配并对齐构成数据集；步骤3：使用曲面拟合法拟合出最优曲面并通过插值方式绘制对流图像；步骤4：通过最大电势点和最小电势点的位置，计算斜率和对应的倾斜角，对对流图像进行翻转；步骤5：使用曲面拟合法绘制翻转后的对流图像；步骤6：通过相关参数对原始图像和翻转图像进行评估；步骤7：采用不对称性指标对对流图像的不对称性进行评价。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州电子科技大学 提取SuperDARN雷达电离层对流图像不对称性的方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号