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申请/专利权人：中国计量科学研究院
摘要：本发明公开了基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统，方法将单能X射线装置对准标准探测器并设置，检测预设时间内的单能峰的计数；结合探测效率得到单能X射线装置的输出；保持设置不变，将单能X射线装置对准待测电离室设备，记录待测电离室设备初始阶段的电荷值、单能X射线装置开启预设时间后的电荷值；计算累积电荷；将待测电离室设备的累积电荷除以单能X射线装置的输出，得到当前的能量响应；调整输出值，重复前述步骤，获得预设能量范围内的能量响应曲线。方案能快速精确地对电离室的能量范围与能量响应的测试，可避免标准源因放射源自身和环境限制以及蒙特卡罗模拟因无法获取精确的探测器参数而导致偏差的缺点。
主权项：1.一种基于单能X射线的电离室能量响应测量方法，其特征在于，包括：将单能X射线装置对准标准探测器，设置单能X射线装置，检测预设时间内的单能峰的计数；由计数与标准探测器探测效率计算得到单能X射线装置的输出；保持单能X射线装置设置不变，将单能X射线装置对准待测电离室设备，记录待测电离室设备的初始阶段电荷、单能X射线装置开启预设时间后的电荷；计算检测待测电离室在预设时间内的累积电荷；将待测电离室设备的累积电荷除以单能X射线装置的输出，得到当前的能量响应；调整单能X射线装置的输出值，重复前述所有步骤，获得预设能量范围内的能量响应曲线。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国计量科学研究院 基于单能X射线的电离室能量响应测量方法及系统
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