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龙图腾网恭喜广州诺顶智能科技有限公司申请的专利基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119941725B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510422489.X，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质是由邹巍;吴庆耀;阮睿;黄生辉;李振伟;林英恒设计研发完成，并于2025-04-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质，涉及芯片缺陷检测技术领域，包括：利用噪声编码器对加噪后的历史分割图像进行特征提取得到当前噪声特征；利用图像编码器对历史RGB原始图像进行特征提取得到当前图像特征，结合上述特征得到当前特征结合信息；利用注意力模块对当前特征结合信息进行处理，得到当前芯片缺陷预测图像和当前带噪声图像；通过噪声编码器对当前带噪声图像进行特征提取得到新的当前噪声特征，并利用提取模块对当前芯片缺陷预测图像进行特征提取以得到新的当前图像特征；重复上述步骤，直至满足预设训练结束条件，并输出相应的训练后芯片缺陷检测模型。如此一来，准确、灵活地实现了对芯片缺陷的检测。

本发明授权基于扩散模型的芯片缺陷检测方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种基于扩散模型的芯片缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取历史芯片缺陷数据集；所述历史芯片缺陷数据集包括对芯片成像后得到的历史RGB原始图像以及相应的反映芯片缺陷区域的历史分割图像；对所述历史分割图像进行加噪处理以得到加噪后图像，并利用待训练芯片缺陷检测模型中的噪声编码器对所述加噪后图像进行特征提取以得到当前噪声特征；所述待训练芯片缺陷检测模型为基于扩散模型构建的模型；利用所述待训练芯片缺陷检测模型中的图像编码器对所述历史RGB原始图像进行特征提取以得到当前图像特征，并将当前噪声特征和当前图像特征相结合以得到当前特征结合信息；利用所述待训练芯片缺陷检测模型中的预设解码器中的用于进行逐步特征细化的注意力模块对当前特征结合信息进行处理，以得到当前芯片缺陷预测图像和当前带噪声图像；通过所述噪声编码器对当前带噪声图像进行特征提取以得到新的当前噪声特征，并利用用于循环特征提取的提取模块对当前芯片缺陷预测图像进行特征提取以得到新的当前图像特征；跳转至所述将当前噪声特征和当前图像特征相结合以得到当前特征结合信息的步骤，直至满足预设训练结束条件，并输出相应的训练后芯片缺陷检测模型；当获取到待检测芯片对应的当前RGB原始图像，则将所述当前RGB原始图像输入至所述训练后芯片缺陷检测模型，以得到所述训练后芯片缺陷检测模型输出的所述待检测芯片的缺陷检测结果。

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