恭喜普冉半导体(上海)股份有限公司秦佳敏获国家专利权
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龙图腾网恭喜普冉半导体(上海)股份有限公司申请的专利一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115116528B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210784901.9，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置是由秦佳敏;周川淼设计研发完成，并于2022-07-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体晶圆测试领域，提供了一种动态卡控的芯片差分单元测试方法，包括：设置三个测试档位；以所述三个测试档位进行卡控，对待测芯片差分单元进行测试，以获得每个所述待测芯片差分单元的电压和电流对应的数值；将所述待测芯片差分单元的电压和电流对应的数值，与基准真值表进行比较，以获取所述待测芯片差分单元的测试结果。本发明通过设置档位进行动态卡控，以及设置真值表进行自动校验，实现对芯片差分单元的测试，防止过杀良品芯片差分单元。
本发明授权一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种动态卡控的芯片差分单元测试方法，其特征在于，包括：设置三个测试档位；以所述三个测试档位进行卡控，对待测芯片差分单元进行读写测试，以获得每个所述待测芯片差分单元的电压和电流对应的数值；将所述待测芯片差分单元的电压和电流数值与基准真值表比较，获取测试结果，根据输出的数值对照真值表进行判断，数值数组依据所述待测芯片差分单元的电压和电流建立，相邻两个测试档位都pass可保证有4档窗口即判定所述待测芯片差分单元为良品。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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