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摘要：本发明涉及一种半导体的高频测试向量波形的产生方法及系统，属于半导体测试技术领域，该方法包括：根据芯片测试的数字信号时序要求，将时间切割为连续的测试周期，其中每个测试周期相同或不同；在测试周期内，采用多路同频的低频时钟信号生成时序分割点，以及在时序分割点上产生时序波形；基于传输媒介将时序波形施加到待测半导体芯片的管脚上。该方法通过高精度时序控制、资源优化、灵活的时序波形生成、高效的信号传输与施加以及广泛的适用性等技术手段，提高了半导体高频测试的精度、效率和可靠性。
主权项：1.一种半导体的高频测试向量波形的产生方法，其特征在于，包括：S1，根据芯片测试的数字信号时序要求，将时间切割为连续的测试周期，其中每个所述测试周期相同或不同；S2，在所述测试周期内，采用多路同频的低频时钟信号生成时序分割点，以及在所述时序分割点上产生时序波形；S3，基于传输媒介将所述时序波形施加到待测半导体芯片的管脚上。
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百度查询： 杭州国磊半导体设备有限公司 半导体的高频测试向量波形的产生方法及系统
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