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摘要：本说明书一个或多个实施例公开了一种用于高通量电学测试的方法及装置。该用于高通量电学测试的方法，包括：将待测样品加工成霍尔条，所述霍尔条包括主体部和设置于所述主体部的两侧并且相对设置的凸起部；通过控制所述霍尔条的凸起部与检测装置的通断电检测所述待测样品的电学性能，可以实现对微纳米级材料或者器件的高通量电学测试，并且测试效率得到提高。
主权项：1.一种用于高通量电学测试的方法，包括：高通量制备待测样品；将待测样品加工成霍尔条，所述霍尔条包括主体部和设置于所述主体部的两侧并且相对设置的凸起部；所述将待测样品加工成霍尔条具体包括：将所述霍尔条的主体部沿着材料组分分布的方向延伸；通过控制所述霍尔条的凸起部与检测装置的通断电检测所述待测样品的电学性能；其中，所述检测装置包括电源、电压表、板卡，以及设置于所述板卡的多个输入端子和多个输出端子；通过控制所述霍尔条的凸起部与检测装置的通断电检测所述待测样品的电学性能，具体包括：将所述霍尔条的凸起部分别对应地连接至所述多个输出端子，其中所述多个输入端子分别对应地连接至所述电源和所述电压表，所述多个输出端子并联连接至所述多个输入端子中的每一个；控制所述多个输出端子中的每一个与所述多个输入端子中的每一个之间的通断电对所述待测样品的电学性能进行检测。
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百度查询： 香港中文大学(深圳) 用于高通量电学测试的方法及装置
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