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申请/专利权人：苏州创鑫激光科技有限公司
摘要：本发明公开了一种光学元件的连续激光温升评价测试系统，包括激光发生装置、z轴导轨、固定组件、运动机构、制冷组件、透射光路收光装置、反射光路吸光装置、温度检测装置；运动机构设置在z轴导轨上，制冷组件设置在运动机构上，固定组件设置在制冷组件上；透射光路吸光装置用于吸收经过待测光学元件的透射光线；反射光路吸光装置用于吸收经过待测光学元件的反射光线；激光发生装置、z轴导轨和透射光路收光装置依次沿x轴设置，激光发生装置出射激光，激光照射到待测光学元件上，之后被透射光路收光装置或反射光路吸光装置收光；温度检测装置用于实时检测待测光学元件的温度。本发明测试种类更多，且可兼容多种光学元件的连续激光温升测试。
主权项：1.一种光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，包括激光发生装置、z轴导轨、固定组件、运动机构、制冷组件、透射光路收光装置、反射光路吸光装置、温度检测装置；所述运动机构设置在所述z轴导轨上，所述制冷组件设置在所述运动机构上，所述固定组件设置在所述制冷组件上，所述固定组件用于固定待测光学元件，所述制冷组件用于对所述待测光学元件进行制冷，所述运动机构用于带动所述制冷组件、所述固定组件和所述待测光学元件一起沿x、y、z轴方向运动；所述透射光路吸光装置用于吸收经过所述待测光学元件的透射光线；所述反射光路吸光装置用于吸收经过所述待测光学元件的反射光线；所述激光发生装置、所述z轴导轨和所述透射光路收光装置依次沿z轴设置，所述激光发生装置出射激光，所述激光照射到所述待测光学元件上，之后被所述透射光路收光装置或所述反射光路吸光装置收光；所述温度检测装置用于实时检测所述待测光学元件的温度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州创鑫激光科技有限公司 一种光学元件的连续激光温升评价测试系统
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