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碳化硅基H型栅功率器件及其制备方法 

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申请/专利权人:深圳市汇芯通信技术有限公司

摘要:本发明涉及半导体器件领域,公开了一种碳化硅基H型栅功率器件及其制备方法。该器件包括从下至上依次层叠设置的背部漏极金属层、n+型碳化硅衬底、n型漂移层;在n型漂移层的顶部两侧分别设有p型基区,p型基区内包裹有p+型源区以及n+型源区;在n型漂移层的上方从左至右依次设有第一源极金属层、氧化层以及第二源极金属层,氧化层内包裹有多晶硅栅,氧化层的下方设有与多晶硅栅邻接的栅氧化层,多晶硅栅的截面呈H型;在第一源极金属层、氧化层以及第二源极金属层的上方设有顶部金属层,在顶部金属层的上方设有钝化层。通过上述方式,本发明能够使大电压应力得到释放,避免栅氧化层的退化。

主权项:1.一种碳化硅基H型栅功率器件,其特征在于,包括从下至上依次层叠设置的背部漏极金属层、n+型碳化硅衬底、n型漂移层;在所述n型漂移层的顶部两侧分别设有p型基区,所述p型基区内包裹有p+型源区以及n+型源区,所述p+型源区以及所述n+型源区并排设置且侧面相互接触,所述p+型源区靠近所述n型漂移层的侧面设置;在所述n型漂移层的上方从左至右依次设有第一源极金属层、氧化层以及第二源极金属层,所述氧化层内包裹有多晶硅栅,所述氧化层的下方设有与所述多晶硅栅邻接的栅氧化层,所述多晶硅栅的截面呈H型;在所述第一源极金属层、所述氧化层以及所述第二源极金属层的上方设有顶部金属层,在所述顶部金属层的上方设有钝化层。

全文数据:

权利要求:

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