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一种含横向耦合腔TCC-VCSEL的制备方法 

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申请/专利权人:安徽科谱芯光科技有限公司

摘要:本申请公开了一种高速直接调制的含横向耦合腔TCC‑VCSEL的制备方法,其中所述VCSEL芯片外延结构以下至上包括:n型GaAs衬底,n型缓冲层,n‑DBR层,包括量子阱和势垒层的有源层,由氧化限制层窗口定义的选择区域砷离子注入第一p‑DBR层,氧化限制层,第二p‑DBR层和高掺杂p接触层。两个相互联接的方型氧化物限制窗口形成正常VCSEL发光窗口和提供光学反馈的横向耦合腔。本申请可以有效控制VCSEL氧化限制窗口的尺寸,尤其是能够精确控制横向耦合腔的尺寸并改善其均匀性,从而能够增加VCSEL带宽,提高良率,可以使低成本的VCSEL激光器满足高速通信领域的需求,降低通信系统的成本。

主权项:1.一种含横向耦合腔的TCC-VCSEL的制备方法,其特征在于,包括如下步骤二在n衬底上生长n缓冲层和n-DBR层;在所述n-DBR层上生长嵌入于1-入厚度的AlGaAs分离异质结构层的包括发光量子阱和势垒层的有源层;在所述有源层之上生长第一p-DBR层;对所述第一p-DBR层进行氧化限制窗口区域外As+离子注入;在被As+离子注入的所述第一p-DBR层上继续生长氧化限制层;在所述氧化限制层上继续生长第二p-DBR层;在第二p-DBR层继续生长高掺杂p型接触层;对所述p型接触层、所述第二p-DBR层、所述氧化限制层、所述第一p-DBR层、所述有源层、所述n-DBR层和缓冲层进行台面刻蚀;对所述氧化限制层进行高温湿氧化操作,其中,λ厚度是指VCSEL发光波长的厚度。

全文数据:

权利要求:

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