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申请/专利权人:信越化学工业株式会社
摘要:本发明涉及化学增幅正型抗蚀剂组成物及抗蚀剂图案形成方法。本发明的课题为提供:可改善图案形成时的矩形性,且可获得LER、分辨性、图案忠实性及剂量宽容度经改善的抗蚀剂图案的化学增幅正型抗蚀剂组成物、及抗蚀剂图案形成方法。本发明的解决手段为一种化学增幅正型抗蚀剂组成物,包含:A包含下式A表示的鎓盐的淬灭剂;及B包含含有下式B1表示的重复单元,且会因为酸的作用而分解,在碱显影液中的溶解度会增大的聚合物的基础聚合物。
主权项:1.一种化学增幅正型抗蚀剂组成物,包含:A包含下式A表示的鎓盐的淬灭剂;及B包含含有下式B1表示的重复单元,且会因为酸的作用而分解,在碱显影液中的溶解度会增大的聚合物的基础聚合物; 式中,n1为0或1的整数;n2为0~6的整数;n3为0~3的整数;n4为0~4的整数;W为亦可含有杂原子的碳数2~20的含氮原子的脂肪族杂环;LA及LB各自独立地为单键、醚键、酯键、酰胺键、磺酸酯键、碳酸酯键或氨基甲酸酯键;XL为单键、或亦可含有杂原子的碳数1~40的亚烃基;R1为亦可含有杂原子的碳数1~20的烃基;n2≥2时,多个R1亦可互相键结而与它们键结的W上的碳原子一起形成环;R2为卤素原子、或亦可含有杂原子的碳数1~20的烃基;n4≥2时,多个R2亦可互相键结而与它们键结的芳香环上的碳原子一起形成环;RAL为酸不稳定基团;Z+为鎓阳离子; 式中,a1为0或1;a2为0~2的整数;a3为满足0≤a3≤5+2a2-a4的整数;a4为1~3的整数;RA为氢原子、氟原子、甲基或三氟甲基;R11为卤素原子、亦可经卤素原子取代的碳数1~6的饱和烃基、亦可经卤素原子取代的碳数1~6的饱和烃氧基或亦可经卤素原子取代的碳数2~8的饱和烃羰氧基;A1为单键或碳数1~10的饱和亚烃基,且该饱和亚烃基的-CH2-亦可被-O-取代。
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百度查询: 信越化学工业株式会社 化学增幅正型抗蚀剂组成物及抗蚀剂图案形成方法
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