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申请/专利权人：金陵科技学院
摘要：一种MSD结构裂纹扩展寿命概率分析装置与方法，其通过定义计算的基础参数；根据定义计算的基础参数对所设定的MSD结构进行L次Monte‑Carlo随机抽样计算，得到L个MSD结构疲劳失效全寿命N1,N2,…,NL；根据L个MSD结构疲劳失效全寿命N1,N2,…,NL统计得出MSD结构疲劳失效全寿命Nj的概率正态分布；基于MSD结构疲劳失效全寿命Nj的概率正态分布最终得到50％失效概率下的广布疲劳损伤敏感结构的疲劳寿命N，即广布疲劳损伤平均行为。真正实现了引入统计学方法来对MSD结构的疲劳寿命进行预测，避免了现有技术中单次试验或模拟仿真只能得到一个简单粗糙的寿命结果的缺陷。
主权项：1.一种MSD结构裂纹扩展寿命概率分析方法，其特征在于，包括：S1、定义计算的基础参数；S2、根据定义计算的基础参数对所设定的MSD结构进行L次Monte-Carlo随机抽样计算，得到L个MSD结构疲劳失效全寿命N1,N2,…,NL；S3、根据L个MSD结构疲劳失效全寿命N1,N2,…,NL统计得出MSD结构疲劳失效全寿命Nj的概率正态分布；S4、基于MSD结构疲劳失效全寿命Nj的概率正态分布最终得到50％失效概率下的广布疲劳损伤敏感结构的疲劳寿命N，即广布疲劳损伤平均行为。
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百度查询： 金陵科技学院 一种MSD结构裂纹扩展寿命概率分析装置与方法
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