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申请/专利权人：广东富思精仪科技有限责任公司

摘要：本发明提供了一种光纤敏感环组件耦合点与熔接点偏振串扰的测试方法，属于光纤测量领域。该测试方法基于白光干涉原理，利用Y波导与0°光纤起偏器消除一阶耦合光，通过对光纤敏感环组件进行一次测试，通过分析结果中二阶峰之间的幅值关系，得到光纤敏感环组件内耦合点、熔接点的偏振串扰因此可用于检测光纤敏感环组件中是否存在额外的高串扰点。本发明提供了一种闭合光路测试的新思路，普遍适用于光纤敏感环组件的生产与检测，对光纤敏感环组件的质量提升、工艺优化具有一定意义。

主权项：1.一种光纤敏感环组件耦合点与熔接点偏振串扰的测试方法，所述的光纤敏感环组件耦合点与熔接点偏振串扰的测试系统包括：Y波导（23）与0°光纤起偏器（322）消除一阶耦合光，通过对光纤敏感环组件（2）进行一次测试，分析结果中二阶峰之间的幅值关系，得到光纤敏感环组件（2）内A耦合点（24）、B耦合点（25）、E耦合点（22），以及C熔接点（26）、D熔接点（27）的偏振串扰，并能够检测光纤敏感环组件（2）中是否存在额外的高串扰点，对光纤敏感环组件（2）的质量提升和工艺改进具有一定意义；所述的光谱拼接解调方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一（101），依据测试光路图完成辅助光路（32）的搭建，将辅助光路（32）中光纤环形器第一尾纤（321a）与白光相干域偏振测量仪输出端口（313）连接、环形器第三尾纤（321c）与白光相干域偏振测量仪输入端口（312）连接；步骤二（102），测量并记录0°光纤起偏器输出尾纤（322a）和Y波导第一尾纤（23a）、Y波导第二尾纤（23b）、Y波导第三尾纤（23c）的长度分别为lPOL、l23a、l23b和l23c；同时，需确保Y波导第一尾纤（23a）、Y波导第二尾纤（23b）、Y波导第三尾纤（23c）三段光纤之间的长度差（l23a-l23b）、（l23a-l23c）、（l23b-l23c）均大于白光相干域偏振测量仪（311）的空间分辨率；步骤三（103），将光纤敏感环组件输出尾纤（23a）与0°光纤起偏器输出尾纤（322a）熔接，形成F熔接点（21），熔接时对轴角度为0°；步骤四（104）：启动白光相干域偏振测量仪（311），对光纤敏感环组件（2）进行测试，所设定的光程扫描范围应大于Δnf×l23a+l23b+l23c+lFiber-Coil，式中lFiber-Coil代表光纤敏感环（28）的长度、Δnf代表线性双折射；测试完成后，使用软件对测试结果进行色散补偿与归一化，并保存软件处理后的测试数据，识别测试结果中的二阶串扰峰信息依次为（S1,ρ1），（S2,ρ2）…，（Sn,ρn）；步骤五（105），依据之前测得的尾纤长度lPOL、l23a、l23b和l23c，由光程追踪法，计算得到光纤敏感环组件（28）中各连接点之间二阶串扰的理论光程差；光纤敏感环组件（2）与测试光路中共由3个熔接点、3个耦合点、2个偏振器件，其中Y波导（23）虽为偏振器件，但其具备极高的消光比，在此忽略Y波导（23）截至轴的光；因此，一共能够形成9个二阶串扰，其理论光程差分别为：A耦合点（24）与B耦合点（25）所形成二阶串扰的理论光程差为：SAB=Δnf×l23b+l23c+lFiber-Coil；A耦合点（24）与C熔接点（26）所形成二阶串扰的理论光程差为：SAC=Δnf×l23b+lFiber-Coil；B耦合点（25）与D熔接点（27）所形成二阶串扰的理论光程差为：SBD=Δnf×l23c+lFiber-Coil；C熔接点（26）与D熔接点（27）所形成二阶串扰的理论光程差为：SCD=Δnf×lFiber-Coil；A耦合点（24）与D熔接点（27）所形成二阶串扰的理论光程差为：SAD=Δnf×l23b；B耦合点（25）与C熔接点（26）所形成二阶串扰的理论光程差为：SBC=Δnf×l23c；E耦合点（22）与0°光纤起偏器（322）所形成二阶串扰的理论光程差为：SEP=Δnf×lPOL+l23a；E耦合点（22）与F熔接点（21）所形成二阶串扰的理论光程差为：SEF=Δnf×l23a；F熔接点（21）与0°光纤起偏器（322）所形成二阶串扰的理论光程差为：SFP=Δnf×lPOL；步骤六（106），上述总计9个二阶串扰中，前6个二阶串扰属于光纤敏感环组件（2）闭合环路内部，后3个二阶串扰属于光纤敏感环组件（2）闭合环路外部，以此为依据将9个二阶串扰分为2组，根据相互之间的光程和幅值关系，计算得到光纤敏感环组件（2）中每个串扰点的偏振串扰，A耦合点（24）的偏振串扰为ρAC-ρCD-ρBD+ρBC2，B耦合点（25）的偏振串扰为ρBC-ρCD-ρBD+ρBC2；E耦合点（22）的偏振串扰为ρEP-ρFP+ρEF-3dB2，C熔接点（26）的偏振串扰为ρCD-ρBD+ρBC2，D熔接点（27）的偏振串扰为ρCD+ρBD-ρBC2；步骤七（107），正常情况下，测试结果中二阶峰数量为9个，若实际测试结果中二阶峰数量n＞9，说明在光纤敏感环（28）或Y波导第一尾纤（23a）、Y波导第二尾纤（23b）、Y波导第三尾纤（23c）上存在由应力等因素导致的高串扰点，对应幅值＞-45dB，可认为该光纤敏感环组件不合格。

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