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申请/专利权人：上海燧原科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种接口转换电路、多芯片互联系统及其测试方法。接口转换电路置于芯片内部，包括：芯片识别模块、数据模块、控制模块、写入模块、读取模块和比较输出模块。芯片位于多芯片互联系统中，芯片中含有芯片标识码。芯片识别模块用于识别芯片识别码并输出识别匹配信息；数据模块用于根据测试向量得到测试指令和测试数据；测试指令包括识别码指令；测试数据包括写入数据和期待响应数据；控制模块用于判断识别匹配信息与识别码指令是否匹配；写入模块用于将写入数据输出至芯片；读取模块用于采集芯片的读取数据；比较输出模块用于根据读取数据和期待响应数据，得到错误信号并输出。本发明实施例可以提高芯片测试的通用性、灵活性和效率。

主权项：1.一种接口转换电路，置于芯片内部，用于芯片测试，其特征在于，所述芯片为多芯片互联系统中的芯片，所述芯片中含有芯片标识码，所述接口转换电路包括：芯片识别模块，所述芯片识别模块用于识别所述芯片的芯片识别码并输出识别匹配信息；数据模块，所述数据模块的输入端用于与外部的主控设备连接；所述数据模块用于根据所述主控设备发出的测试向量得到测试指令和测试数据；其中，所述测试向量与所述接口转换电路匹配；所述测试指令包括识别码指令；所述测试数据包括写入数据和期待响应数据；控制模块，所述控制模块的第一输入端与所述芯片识别模块的输出端连接，所述控制模块的第二输入端与所述数据模块的第一输出端连接；所述控制模块用于判断所述识别匹配信息与所述识别码指令是否匹配；写入模块，所述写入模块的第一输入端与所述数据模块的第二输出端连接，所述写入模块的第二输入端与所述控制模块的输出端连接，所述写入模块的输出端与所述芯片的测试访问端口的输入端连接，以将所述写入数据输出至所述芯片；读取模块，所述读取模块的输入端与所述芯片的测试访问端口的输出端连接；所述读取模块用于采集所述芯片反馈的读取数据；比较输出模块，所述比较输出模块的第一输入端与所述数据模块的第三输出端连接，所述比较输出模块的第二输入端与所述读取模块的输出端连接；所述比较输出模块用于根据所述读取数据和所述期待响应数据，得到错误信号并通过输出端输出；所述数据模块还用于将所述测试数据进行拆分，将所述写入数据传输给所述写入模块；将所述期待响应数据传输给所述比较输出模块。

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