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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
摘要：本公开涉及一种数据压缩电路、存储器、集成电路测试装置及测试方法，本公开实施例提供的数据压缩电路包括数据写入电路和数据读取电路；其中，数据写入电路包括一个第一输入接口、多个第一输出接口以及数据写入模块；数据读取电路包括多个第二输入接口、一个第二输出接口以及数据读取模块。在本公开实施例提供的数据压缩电路中，利用数据写入电路和数据读取电路的组合可以成倍地增加待测试集成电路的同测数量，显著提高了测试效率，降低了测试成本。
主权项：1.一种数据压缩电路，用于测试集成电路，其特征在于，所述数据压缩电路包括数据写入电路和数据读取电路；其中，所述数据写入电路包括：一个第一输入接口，所述第一输入接口用于接收测试数据；多个第一输出接口，所述第一输出接口与所述集成电路相连；数据写入模块，所述数据写入模块根据所述第一输入接口接收到的测试数据通过多个所述第一输出接口向所述集成电路写入数据；所述数据读取电路包括：多个第二输入接口，所述第二输入接口与所述集成电路相连；一个第二输出接口，所述第二输出接口与所述测试数据的发送方相连；数据读取模块，所述数据读取模块通过多个所述第二输入接口从所述集成电路读取数据，根据所述数据生成测试结果，并通过所述第二输出接口向所述测试数据的发送方返回所述测试结果；所述第一输出接口和所述第二输入接口均与所述集成电路的数据通道相连；所述数据通道两两组合形成数据通道对；所述数据写入模块通过所述第一输出接口向每个数据通道对内的两个数据通道写入相同的测试数据；所述数据读取模块通过所述第二输入接口从每个数据通道对内的两个数据通道读取数据，并比较从所述两个数据通道读取的数据是否相同。
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权利要求：
百度查询： 长鑫存储技术有限公司 数据压缩电路、存储器、集成电路测试装置及测试方法
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