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固态设备及辐射诱发误差的检测方法 

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申请/专利权人:波音公司

摘要:本公开涉及固态设备及辐射诱发误差的检测方法。固态设备具有接收电离辐射的基板、逻辑电路、完整性电路和收集电路。逻辑电路可操作为执行逻辑功能。逻辑电路位于基板上的区域中,并且单独易受电离辐射的可能损坏的影响。每个完整性单元被初始化到预定状态。完整性单元位于基板上的区域中,以与逻辑电路相邻的图案布置,并且单独地易受响应于电离辐射而扰乱预定状态的影响。收集电路位于基板上。收集电路可操作以读取多个完整性单元,并响应于读取完整性单元中的相邻完整性单元中的不正确状态而断言报告信号,该报告信号识别由于电离辐射引起的逻辑电路的子集中的可能损坏。

主权项:1.一种固态设备100,包括:基板102,接收电离辐射90a;多个逻辑电路104,能操作为执行多个逻辑功能105,其中,所述多个逻辑电路104:位于所述基板102上的区域112中;以及单独易受所述电离辐射90a的可能损坏181的影响;多个完整性单元106,每个完整性单元被初始化为预定状态109,其中,所述多个完整性单元106:位于所述基板102上的所述区域112中;以与所述多个逻辑电路104相邻的图案120布置;以及单独地易受响应于所述电离辐射90a而扰乱所述预定状态109的影响;以及收集电路108,位于所述基板102上,其中,所述收集电路108能操作为:读取所述多个完整性单元106;以及响应于读取所述多个完整性单元106中的相邻完整性单元中的不正确位111,断言报告信号116,所述报告信号116识别由于所述电离辐射90a而引起的所述多个逻辑电路104的子集124中的所述可能损坏181。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 波音公司 固态设备及辐射诱发误差的检测方法

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