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一种整盘芯片形貌三维检测系统及方法 

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申请/专利权人:无锡观行智控科技有限公司

摘要:本发明提供了一种整盘芯片形貌三维检测系统及方法,涉及芯片检测领域,系统包括人机界面、处理器、3D相机、工控板、编码器、激光器、传感器模组、驱动器、直线滑台。处理器连接人机界面、3D相机和工控板;工控板连接编码器、激光器、传感器模组和驱动器;激光器置于3D相机上;人机界面用于交互;处理器控制3D相机工作,进行图像处理和检测;3D相机对芯片进行扫描并传输数据;工控板接收编码器和传感器信号,驱动器控制滑台运动;编码器采集相位、判断相机位置;传感器模组限位和定位滑台。本发明提高了芯片检测精度、准确度和效率,支持高精度扫描检测,促进产品质量和生产流程优化,降低成本,支持智能制造,具有广泛应用前景。

主权项:1.一种整盘芯片形貌三维检测系统,其特征在于,包括:人机界面、处理器、3D相机、工控板、编码器、激光器、传感器模组、驱动器、直线滑台;所述处理器分别与所述人机界面、所述3D相机和所述工控板连接;所述工控板分别与所述编码器、所述激光器、所述传感器模组和所述驱动器连接;所述驱动器与所述直线滑台连接;所述激光器设置在所述3D相机上;所述人机界面用于进行人机交互;所述处理器用于控制所述3D相机工作,以进行图像数据处理、统计和检测;所述3D相机用于对整盘芯片进行3D扫描,并将采集的点云数据传送给处理器;所述工控板用于接收所述编码器和所述传感器模组的信号,并通过所述驱动器对所述直线滑台进行运动控制;所述编码器用于进行相位采集,并判断所述3D相机的位置及移动距离;所述传感器模组用于进行直线滑台的限位和定位。

全文数据:

权利要求:

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