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晶体芯片混合金属化方法及晶体芯片和电子器件 

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申请/专利权人:青岛天银纺织科技有限公司

摘要:本发明公开一种晶体芯片混合金属化方法及晶体芯片和电子器件。本发明的晶体芯片的金属沉积与硅的粘附性好,形成接触时空洞少,能够使晶片与沉积金属的粘结机械强度高,晶片之间的焊层接触热阻小,从而使器件的热阻降低,二次击穿性能好,抗热疲劳循环次数高。另外,本发明的金属沉积后,与硅的欧姆接触好,串联电阻小。

主权项:1.一种晶体芯片混合金属化方法,其特征在于,包括以下步骤:1使硅晶片的至少部分表面与pH8-10的改性碱溶液接触,得到处理后的表面,所述改性碱溶液包含0.5-10mgml的多巴胺;2使所述硅晶片的处理表面与纳米钯颗粒的分散液接触1-10小时后,取出干燥;3将镀镍液涂布于步骤2得到的硅晶片的处理表面反应1-10分钟,去除镀镍液后干燥,所述镀镍液包含15-20gL的氯化镍、20-30gL的次亚磷酸钠和10-20gL的乙酸钠;4进一步将镀金液涂布于步骤3得到的处理表面反应10-30分钟,去除镀金液后干燥,所述镀金液包含0.5-5gL的氰化金、5-15gL的四硼酸钠、1-5gL的氰化钾和10-20gL的硫代硫酸钠;和5在惰性气氛或真空中加热至120-160℃干燥10-20分钟,然后升温至200-300℃干燥25-35分钟,接下来进一步升温至970-1000℃干燥3-6小时,从而得到金属化硅晶体芯片。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 青岛天银纺织科技有限公司 晶体芯片混合金属化方法及晶体芯片和电子器件

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