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申请/专利权人：武汉云岭光电股份有限公司
摘要：本发明涉及半导体技术领域，提供了一种多功能插针器件的测试装置，包括多插孔组件和可控式电路板，所述多插孔组件具有供插针器件的插针插入的多个插孔，所述可控式电路板用于对每个所述插孔独立供电。还提供一种多功能插针器件的测试方法，采用上述的测试装置，包括如下步骤：S1，将待测插针器件的插针插入到所述多插孔组件的插孔中，S2，根据插针插入的插孔，采用所述可控式电路板给被插针插入的各所述插孔供电；S3，对所述插针器件进行上电测试。本发明可以根据插针器件插入的插孔来对该插孔进行单独的供电，如此不管什么类型的插针器件均可采用本装置实现供电。
主权项：1.一种多功能插针器件的测试装置，其特征在于：包括多插孔组件和可控式电路板，所述多插孔组件具有供插针器件的插针插入的多个插孔，所述可控式电路板用于对每个所述插孔独立供电。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉云岭光电股份有限公司 多功能插针器件的测试装置以及方法
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