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申请/专利权人：合肥国家实验室;中国科学技术大学
摘要：本公开提供一种单光子反射层析成像方法，包括：操作S1：发出高斯光束至自由空间并作用于目标物体；操作S2：接收所述高斯光束作用于目标物体后得到的反射光束，以探测光子信息；操作S3：根据所述光子信息得到光子计数‑时间直方图；操作S4：基于所述光子计数‑时间直方图得到目标物体在某角度下的时域波形；以及操作S5：对不同角度下的时域波形进行处理，得到物体的三维表面轮廓。还提供一种单光子反射层析成像装置。
主权项：1.一种单光子反射层析成像方法，包括：操作S1：发出高斯光束至自由空间并作用于目标物体；操作S2：接收所述高斯光束作用于目标物体后得到的反射光束，以探测光子信息；操作S3：根据所述光子信息得到光子计数-时间直方图；操作S4：基于所述光子计数-时间直方图得到目标物体在某角度下的时域波形；以及操作S5：对不同角度下的时域波形进行处理，得到物体的三维表面轮廓。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥国家实验室 中国科学技术大学 单光子反射层析成像方法及装置
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