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申请/专利权人:武汉大学
摘要:一种电离层TEC数据补全方法、装置、设备及存储介质,涉及电离层技术领域,其中,电离层TEC数据补全方法包括:将不同时刻的MIT‑TEC图的缺失地区作为掩膜进行提取;利用提取的掩膜数据对对应时刻的IGS‑TEC图进行覆盖,得到缺失的IGS‑TEC图;将缺失的IGS‑TEC图作为AOT‑GAN模型的输入,将完整的IGS‑TEC图作为AOT‑GAN模型的输出,以对AOT‑GAN模型进行训练;利用训练好的AOT‑GAN模型对MIT‑TEC图的数据进行修复,以将MIT‑TEC图的缺失地区的数据补充完整。本申请可使得MIT‑TEC不仅能够反映电离层TEC中小尺度变化特征,还能够对全球范围内电离层TEC的时空变化进行呈现。
主权项:1.一种电离层TEC数据补全方法,其特征在于,所述电离层TEC数据补全方法包括:将不同时刻的MIT-TEC图的缺失地区作为掩膜进行提取;利用提取的掩膜数据对对应时刻的IGS-TEC图进行覆盖,得到缺失的IGS-TEC图;将缺失的IGS-TEC图作为AOT-GAN模型的输入,将完整的IGS-TEC图作为AOT-GAN模型的输出,以对AOT-GAN模型进行训练;利用训练好的AOT-GAN模型对MIT-TEC图的数据进行修复,以将MIT-TEC图的缺失地区的数据补充完整。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 武汉大学 一种电离层TEC数据补全方法、装置、设备及存储介质
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