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申请/专利权人：北京炎黄国芯科技有限公司
摘要：本发明提供一种集成电路测试方法及系统，涉及集成电路测试技术领域，包括构建集成电路测试领域知识图谱，利用消息传递机制提取电路的结构和功能表示，将提取的结构和功能表示作为特征向量输入预先构建的测试用例生成模型，自动生成满足测试需求和约束条件的测试用例；将生成的测试用例输入支持多故障模型的仿真引擎，预定位仿真数据中的第一候选故障区域；对集成电路进行硬件测试，采用谱系分析方法计算硬件测试数据与仿真数据的差异，定位硬件测试数据中的第二候选故障区域，综合第一候选故障区域和第二候选故障区域，确定最终故障区域，并输出故障诊断建议。
主权项：1.一种集成电路测试方法，其特征在于，包括：构建集成电路测试领域知识图谱，根据集成电路测试领域知识图谱，从待测电路的原理图中提取电路拓扑结构，识别电路中的功能模块，提取功能模块的输入输出特性，形成电路知识表示，对所述电路知识表示进行图嵌入学习，通过图神经网络将电路图中的节点和边嵌入到低维向量空间，利用消息传递机制提取电路的结构和功能表示，将提取的结构和功能表示作为特征向量输入预先构建的测试用例生成模型，自动生成满足测试需求和约束条件的测试用例；将生成的测试用例输入支持多故障模型的仿真引擎，通过仿真引擎设置故障类型、注入位置和触发条件，动态修改电路模型行为模拟故障对电路正常运行的影响，生成仿真数据，提取仿真数据的特征表示，根据提取的仿真数据特征表示计算仿真数据和参考数据的相似度，预定位仿真数据中的第一候选故障区域；对集成电路进行硬件测试，采集硬件测试响应数据，将采集的硬件测试响应数据与仿真数据进行对齐，建立软硬件数据之间的映射关系，基于所述映射关系，采用谱系分析方法计算硬件测试数据与仿真数据的差异，定位硬件测试数据中的第二候选故障区域，综合第一候选故障区域和第二候选故障区域，确定最终故障区域，并输出故障诊断建议。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京炎黄国芯科技有限公司 集成电路测试方法及系统
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