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申请/专利权人：中国科学院紫金山天文台
摘要：本发明提出了一种X射线调制望远镜子准直器光栅层叠效应分析方法、系统、介质及设备，将包含了层叠效应的X射线调制望远镜子准直器单层光栅的金属丝截面近似为上下底边平行的六边形，并在此基础上，通过简单的几何关系近似得到单层光栅的透过率函数。在引入可能存在的平移与旋转效应后，将前、后光栅的透过率函数沿入射光投影到探测器平面并积分，得到包含层叠效应的子准直器透过率函数的解析形式，可用于对望远镜测量结果的逆变换重建图像。本发明首次给出了包含层叠效应的X射线调制望远镜子准直器透过率函数的解析形式，在计算速度和模型可解析性上有了极大的提升，方便了对层叠效应开展进一步的研究分析工作，在实际应用中具有相当的价值。
主权项：1.一种X射线调制望远镜子准直器光栅层叠效应分析方法，其特征在于，包括：对存在层叠效应的光栅，将其单条金属丝的几何截面构型近似为上下底边平行的六边形；对近似后的六边形构型，将光栅的透过率函数写成方波形式，并对方波形式的透过率函数进行傅立叶级数展开；引入可能存在的平移与旋转效应，将前、后光栅的透过率函数分别沿入射光方向投影到探测器平面；在探测器平面上将前、后光栅的透过率函数积分并在工程条件下进行简化，得到包含层叠效应的子准直器的透过率函数；将包含层叠效应的子准直器的透过率函数用于对望远镜测量结果的逆变换重建图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院紫金山天文台 X射线调制望远镜子准直器光栅层叠效应分析方法、系统、介质及设备
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