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申请/专利权人：威海天力电源科技有限公司;威海天凡电源科技有限公司;西安天驭智控科技有限公司

摘要：本发明提供一种逻辑板综合性能测试装置及测试方法，测试步骤包括，接通电源，安装测试针床，将待测试逻辑板放置在逻辑板放置座上，启动上位机程序，选择待测试的逻辑板型号，点击上位机界面的运行按键，上位机发送指令到信号发生器，控制信号发生器断电，然后发送参数调整指令，控制信号发生器切换至待测试的逻辑板型号的参数。该逻辑板综合性能测试装置及测试方法对于测试不同型号的逻辑板，只需要更换不同型号的测试针床即可满足测试需求，不会占用大量存放位置，测试装置利用率高，并且，针对逻辑板更新换代的问题，同样只需要更换不同型号的测试针床，即可满足不同型号的逻辑板的测试要求。本发明可广泛应用于逻辑板的综合性能测试。

主权项：1.一种逻辑板综合性能测试方法，其特征是：包括如下步骤：步骤（1）：接通电源，安装待测试逻辑板型号的测试针床；步骤（2）：将待测试逻辑板放置在逻辑板放置座上，启动上位机程序，选择待测试的逻辑板型号，点击上位机界面的运行按键，上位机发送断电指令到信号发生器，控制信号发生器断电，然后发送参数调整指令，控制信号发生器切换至待测试的逻辑板型号的参数；步骤（3）：上位机程序发送气缸关闭指令至单片机模块，关闭气缸自动上升功能；步骤（4）：同时按下两个启动按钮，继电器控制气缸下降，将测试针床上的测试探针与逻辑板上的测试点接触，上位机程序发送磁性开关闭合指令至单片机模块，单片机模块检测到磁性开关闭合后，发送回传指令至上位机程序；步骤（5）：上位机程序接收到指令后，发送复位指令到单片机模块，控制模块上的所有模块状态复位；步骤（6）：上位机程序发送电压输出指令到信号发生器，信号发生器输出预设电压给逻辑板供电；步骤（7）：上位机程序发送供电指令到单片机模块，控制屏幕使能与屏幕供电；步骤（8）：上位机程序发送模式切换指令到单片机模块，将控制模块切换为使用电压采集模块模式运行；步骤（9）：上位机程序发送通道切换指令到单片机模块，控制模块根据逻辑板型号预设的程序，控制光电耦合器模块运行，通过光电耦合器模块打开对应的通道，然后通过移位寄存器模块与反向驱动模块构成电压转换电路，通过电压转换电路采集逻辑板的电压参数；步骤（10）：上位机程序发送模式切换指令到单片机模块，将控制模块切换为使用波形采集模块模式运行；步骤（11）：上位机程序发送通道切换指令到单片机模块，控制对应通道使能并打开该通道，使用波形采集模块的动态链接库，采集控制模块使能，同时打开通道内所对应的逻辑板频率检测通道，通过波形采集模块采集逻辑板的波形参数和频率参数；步骤（12）：上位机程序发送关闭指令到信号发生器，控制信号发生器的输出端关闭；步骤（13）：上位机程序发送关闭指令到单片机模块，控制屏幕使能关闭以及屏幕供电关闭；步骤（14）：上位机程序根据采集到的电压参数和波形参数、频率进行综合判定，然后，上位机发送测试结果到单片机模块，当测试结果为良品时，LED灯颜色为绿色，当测试结果为不良品时，LED灯颜色为红色，同时，继电器控制气缸上升，完成单次性能测试。

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