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申请/专利权人：成都数之联科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种电子器件选型推荐方法、系统、设备及存储介质，涉及电子器件选型推荐领域，所述方法流程为：获取不同类别电子器件的基本属性数据以及在不同应用场景中的历史选用数据，以构建训练样本集；基于训练样本集构建适应性指数模型，并且基于适应性指数模型计算不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数；根据选型目标需求获取电子器件推荐候选集；根据不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数对电子器件推荐候选集进行筛选处理，以得到电子器件选型推荐结果。本发明通过构建不同类别电子器件在不同应用场景下的适应性指数，能够度量不同类别电子器件对特定场景的适应情况，进而能够实现特定应用场景下的电子器件选型推荐。
主权项：1.一种电子器件选型推荐方法，其特征在于，所述方法包括以下流程：获取不同类别电子器件的基本属性数据以及在不同应用场景中的历史选用数据，以构建训练样本集；基于训练样本集构建不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数模型，并且基于适应性指数模型计算不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数；根据目标应用场景中设置的选型目标需求获取电子器件推荐候选集；根据不同类别电子器件在不同应用场景中的适应性指数对电子器件推荐候选集进行筛选处理，以得到电子器件选型推荐结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都数之联科技股份有限公司 一种电子器件选型推荐方法、系统、设备及存储介质
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