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互连结构及其制作方法、半导体器件 

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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

摘要:本发明提供一种互连结构及其制作方法、半导体器件,所述制作方法包括:提供基底,基底表面形成有第一层间介质层,第一层间介质层内具有第一金属层,形成第二层间介质层,形成第二凹槽在第二介质层内,至暴露出部分第一金属层,形成第二阻挡层在第二凹槽的侧壁及底部,填充第二金属层在第二凹槽及通孔内。第二阻挡层覆盖所述第二凹槽的侧壁及底部,且所述第二阻挡层的材质包含钽化钌,从而使得后续形成的第二金属层的浸润性更好。并且,第一金属层内形成有凹陷,使得通孔的底部呈弧形,增大了通孔电流的横截面积,从而减小通孔的接触电阻,增加抗电子迁移能力。

主权项:1.一种互连结构的制作方法,其特征在于,包括:提供基底,所述基底表面形成有第一层间介质层,所述第一层间介质层内具有第一金属层;形成第二层间介质层,所述第二层间介质层覆盖所述第一层间介质层和所述第一金属层;形成第二凹槽在所述第二层间介质层内,所述第二凹槽暴露出部分所述第一金属层;形成第二阻挡层在所述第二凹槽的侧壁及底部,所述第二阻挡层的材质包含钽化钌;以及,填充第二金属层在所述第二凹槽内;其中,形成所述第二凹槽的步骤包括:形成多个第三凹槽在所述第二层间介质层内;形成通孔在所述第三凹槽底部的所述第二层间介质层内,至暴露出部分所述第一金属层,且所述通孔的宽度小于所述第三凹槽的宽度;所述第三凹槽与所述通孔共同构成所述第二凹槽;在形成所述通孔之后,形成所述第二阻挡层之前,还包括:形成保护层在所述通孔以及所述第三凹槽的侧壁及底部,刻蚀所述通孔底部的所述保护层与所述第一金属层,以在所述第一金属层内形成凹陷,使所述通孔的底部呈弧形,所述保护层的材质包含含氮的钽化钌。

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