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测量光谱的装置及估计分析物浓度的装置和方法 

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申请/专利权人:三星电子株式会社

摘要:一种用于测量光谱的装置,包括:光源阵列,被配置为朝向对象发射光;光电检测器,被配置为检测被对象反射的光;以及处理器,被配置为:使用光源阵列和光电检测器,基于光源阵列的温度变化来测量多个温度校正光谱;通过分析所测量的多个温度校正光谱来获得光源温度漂移矢量;使用光源阵列和光电检测器来测量分析光谱;以及通过使用所获得的光源温度漂移矢量来调整所测量的分析光谱以减小光源阵列的温度变化的影响。

主权项:1.一种用于测量光谱的装置,所述装置包括:光源阵列,被配置为朝向对象发射光;光电检测器,被配置为检测被所述对象反射的光;以及处理器,被配置为:使用所述光源阵列和所述光电检测器,基于所述光源阵列的温度变化来测量所述对象的多个温度校正光谱;通过分析所测量的多个温度校正光谱来获得光源温度漂移矢量;使用所述光源阵列和所述光电检测器来测量所述对象的分析光谱;使用所获得的光源温度漂移矢量,通过回归分析根据所测量的分析光谱获得光源温度漂移矢量分量;以及通过从所测量的分析光谱中去除所获得的光源温度漂移矢量分量,来调整所测量的分析光谱以减小所述光源阵列的温度变化的影响。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三星电子株式会社 测量光谱的装置及估计分析物浓度的装置和方法

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