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申请/专利权人：西安理工大学
摘要：本发明公开了基于偏振测量的碳质颗粒物检测装置，包括半导体激光器、孔径光阑、线偏振片a、光陷阱形成的光学系统，还包括鞘气系统，半导体激光器发出的激光经过孔径光阑约束光线宽度，经过线偏振片a将光束转变为特定偏振态进入光陷阱，鞘气系统将气溶胶颗粒物扩散至孔径光阑与光陷阱之间光路上形成散射光，检偏装置将散射光调制成特定偏振态的光，光电探测器将特定偏振态的光转变为电信号，并将电信号传输至数据采集卡，数据采集卡连接上位机；能够有效识别粒径为2μm的碳质颗粒物碳质属性。本发明还公开了基于偏振测量的碳质颗粒物检测方法，具有实时性高、测量范围广、高效和无损伤的优点。
主权项：1.基于偏振测量的碳质颗粒物检测装置，其特征在于，包括半导体激光器1、孔径光阑2、线偏振片a3、光陷阱4形成的光学系统，还包括垂直设置在孔径光阑2与光陷阱4之间光路的鞘气系统，半导体激光器1发出的激光经过孔径光阑2约束光线宽度，经过线偏振片a3将光束转变为特定偏振态进入光陷阱4，鞘气系统将气溶胶颗粒物扩散至孔径光阑2与光陷阱4之间光路上形成散射光，检偏装置将散射光调制成特定偏振态的光，光电探测器9将特定偏振态的光转变为电信号，并将电信号传输至数据采集卡10，所述数据采集卡10连接上位机11。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安理工大学 基于偏振测量的碳质颗粒物检测装置及检测方法
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