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申请/专利权人：深圳同兴达科技股份有限公司
摘要：本发明公开一种LCM制程前后LCD边缘微裂纹检测方法，包括以下步骤：步骤1：在LCD大板上，对每小片LCD的ITO线路阻值进行检测，并将检测结果与该小片LCD的ID进行绑定；步骤2：在LCD大板切割成单片LCD后，对LCD边缘的ITO线路的阻值进行检测，并根据检测结果判断切割工序是否正常；步骤3：在LCD加工组装为LCM模组后，对LCD边缘的ITO线路的阻值进行检测，并根据检测结果判断组装工序是否正常；步骤4：在LCM模组运输到下游厂商进行来料质检时，对LCD边缘的ITO线路的阻值进行检测，并根据检测结果判断运输工序是否正常。本发明可以实现对LCD边缘微裂纹的全程监控。
主权项：1.一种LCM制程前后LCD边缘微裂纹检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：在LCD大板上，对每小片LCD的ITO线路阻值进行检测，并将检测结果与该小片LCD的ID进行绑定；步骤2：在LCD大板切割成单片LCD后，对LCD边缘的ITO线路的阻值进行检测，将检测结果与该片LCD的ID进行绑定，并根据检测结果判断切割工序是否正常；步骤3：在LCD加工组装为LCM模组后，对LCD边缘的ITO线路的阻值进行检测，将检测结果与LCM模组二维码信息进行绑定，并根据检测结果判断组装工序是否正常；步骤4：在LCM模组运输到下游厂商进行来料质检时，对LCD边缘的ITO线路的阻值进行检测，并根据检测结果判断运输工序是否正常。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳同兴达科技股份有限公司 一种LCM制程前后LCD边缘微裂纹检测方法
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