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申请/专利权人：中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司(国营第四三二六厂)
摘要：本发明公开了一种薄膜电容器的芯子的容量检测方法及应用，涉及薄膜电容器技术领域。包括在芯子相对的两个端面沉积一层纳米金属层，然后采用电工仪表的两个检测探头分别与芯子两端的纳米金属层接触检测。通过在芯子两端沉积一层纳米金属层，纳米金属层可以直接将芯子的容量引出，当采用电工仪表的探头与芯子两端的纳米金属层接触时，可以直接检测出芯子的容量大小。该测试方法简单，且检测的芯子容量准确，不会损伤芯子的材料，测试完成的芯子若是容量合格仍然可以进一步制作成薄膜电容器，能够适用于不同尺寸的芯子的电容测量。
主权项：1.一种薄膜电容器的芯子的容量检测方法，其特征在于，包括在芯子相对的两个端面沉积一层纳米金属层，然后采用电工仪表的两个检测探头分别与所述芯子两端的纳米金属层接触检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司(国营第四三二六厂) 薄膜电容器的芯子的容量检测方法及应用
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