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申请/专利权人：华为技术有限公司
摘要：本申请实施例提供一种确定寄生参数的方法和相关设备，该方法包括：获取电路的第一版图块包括的N个非绝缘体，其中该非绝缘体包括导体或半导体中的至少一种，N为大于或等于2的正整数；确定该第一版图块与模式库中的第一模式匹配，其中该第一模式包括N个元素，该N个非绝缘体和该N个元素一一对应，该N个非绝缘体中的每个非绝缘体与对应的元素的形状匹配；根据该第一模式，确定该第一版图块的特征信息，该第一版图块的特征信息用于描述该N个非绝缘体的几何特征；根据该第一版图块的特征信息，确定寄生参数。上述技术方案确定的寄生参数精度较高。
主权项：1.一种确定寄生参数的方法，其特征在于，包括：获取电路的第一版图块包括的N个非绝缘体，其中所述非绝缘体包括导体或半导体中的至少一种，N为大于或等于2的正整数；确定所述第一版图块与模式库中的第一模式匹配，其中所述第一模式包括N个元素，所述N个非绝缘体和所述N个元素一一对应，所述N个非绝缘体中的每个非绝缘体与对应的元素的形状匹配；根据所述第一模式，确定所述第一版图块的特征信息，所述第一版图块的特征信息用于描述所述N个非绝缘体的几何特征；根据所述第一版图块的特征信息，确定寄生参数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华为技术有限公司 确定寄生参数的方法和相关设备
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