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申请/专利权人：无锡锐格思信息技术有限公司

摘要：本发明涉及一种提高干扰性能的电介质状态检测电路与采用此电路的电设备，属于电子技术领域。接受控制电路和激励信号保持电路，当激励信号保持电路检测到测试激励信号后，打开一定时长的接受控制电路，让测试激励信号通过待测电介质的响应信号传送到逻辑处理器件。逻辑处理器件只在发出测试激励信号后的一定时长内接受测试响应信号。其他时间屏蔽响应信号和干扰信号。这样提高了抗干扰性能和降低误判率。

主权项：1.一种提高干扰性能的电介质状态检测电路，包含对待测试电介质43进行检测的测试回路4的激励输入端口41与响应输出端口42，其特征在于：所述激励输入端口41连接激励信号保持电路3，所述响应输出端口42连接接受控制电路2，所述激励输入端口41通过激励端口11连接逻辑处理器件1，所述激励信号保持电路3的控制输入端口32和所述测试回路4的激励输入端口41同时电连接，所述激励信号保持电路3的控制输出端口33与所述接受控制电路2的控制输入端口23电连接；所述接受控制电路2的测试输出端口22与所述逻辑处理器件1的接受端口12电连接，所述接受控制电路2的测试输入端口24与所述测试回路4的响应输出端口42电连接；所述激励信号保持电路（3）包括二极管（34）和电容（31）,电容（31）一端接信号地,激励信号的高电平通过二极管（34）给电容（31）充电至高电平,所述接受控制电路（2）包括一个CMOS门器件（21）,接受控制电路（2）的控制输入端口（23）与CMOS门器件（21）的控制集电连接；当接受控制电路（2）的控制输入端口（23）处于高于阈值的高电平时,CMOS门器件（21）导通,使得测试输出端口（22）与测试输入端口（24）相互导通；所述激励信号保持电路3的控制输入端口32没有收到所述逻辑处理器件1发出的测试激励信号时，所述激励信号保持电路（3）的控制输出端口33输出代表没有激励信号的特定信号；所述激励信号保持电路3的控制输入端口32收到所述逻辑处理器件1发出的测试激励信号时，所述激励信号保持电路3的控制输出端口33输出设定时长的代表有激励信号的特定信号；当所述接受控制电路2的控制输入端口23收到所述设定时长的代表有激励信号的特定信号时，所述接受控制电路2的测试输入端口24信号传输到所述接受控制电路2的测试输出端口22，进而传送给所述逻辑处理器件1；当所述接受控制电路2的控制输入端口23收到所述代表没有激励信号的特定信号时，所述接受控制电路2的测试输出端口22输出代表没有测试输出的信号，所述代表没有测试输出的信号可以是所述测试回路4的激励输入端口41没有得到测试信号时，响应输出端口42的信号电平，或者是某一特定的电平；所述逻辑处理器件1根据收到的信号推断出待测电介质的状态。

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