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申请/专利权人：浙江理工大学
摘要：本发明公开了一种基于高光谱成像技术的原棉杂质含量测定方法，包括以下步骤：1收集大量的原棉棉包试样，对试样进行杂质含量标定；2采集备用试样的高光谱图像；3对获得的高光谱数据进行预处理；4基于杂质和棉花光谱曲线的定性判定模型的建立；5提取经过步骤2、3的高光谱图像的每一个像素点；带入步骤4中判定模型；6将未知试样的高光谱数据，经步骤2、3采集高光谱数据及处理，与现有技术相比，能够对待测试样进行高效快速的大批量检测。
主权项：1.一种基于高光谱成像技术的原棉杂质含量测定方法，其特征在于：包括以下步骤：1收集大量的原棉棉包试样，对试样进行杂质含量标定；2采集备用试样的高光谱图像；3对获得的高光谱数据进行预处理；4基于杂质和棉花光谱曲线的定性判定模型的建立；5提取经过步骤2、3的高光谱图像的每一个像素点；带入步骤4中判定模型，经过判定后，标记为棉花信息的像素点数量为a，非棉花信息像素点数量为b，则总像素点数量为a+b，统计非棉花信息像素点占所有像素点的比例为ba+b，对每一个含杂率标签所对应的棉包的高光谱图像进行上述处理，若非棉花信息像素点占所有像素点的比例为ba+b，其所对应真实含杂率标签为c，对两者之间的数据进行高斯函数拟合，再模型优化后，得到最终的杂质含量测定方法；6将未知试样的高光谱数据，经步骤2、3采集高光谱数据及处理，提取每一个像素点数据，输入到步骤4获得的模型，统计非棉花信息像素点占所有像素点的比例，再代入到步骤5所获取的拟合函数中，即可得到其含杂率信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江理工大学 一种基于高光谱成像技术的原棉杂质含量测定方法
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