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申请/专利权人：安徽大学

摘要：本发明涉及一种热电纤维材料塞贝克值测试装置，与现有技术相比解决了无法针对热电纤维材料进行Seebeck测试的缺陷。本发明中测试纤维样品的左端安装在左陶瓷片上、右端安装在右陶瓷片上，所述的左陶瓷片为加热陶瓷片，左电压探针台的探针抵在测试纤维样品的左端，右电压探针台的探针抵在测试纤维样品的右端。本发明能够适用于热电纤维材料的塞贝克值测试。

主权项：1.一种热电纤维材料塞贝克值测试装置，包括左电压探针台（1）、右电压探针台（2）和呈台（3），其特征在于：所述的左电压探针台（1）、右电压探针台（2）均活动安装在呈台（3）上且均与呈台（3）构成滑动配合，呈台（3）上设有支撑平台（5），支撑平台（5）的中部设有凹台（6），样品框（4）放置在凹台（6）内，样品框（4）的左侧通过PI膜（27）裹敷在样品框（4）上形成左试验台（7），样品框（4）的右侧通过PI膜（27）裹敷在样品框（4）上形成右试验台（8），左试验台（7）与右试验台（8）之间设有空腔（9），支撑平台（5）上位于左试验台（7）一侧设有左轴支架（10）、位于右试验台（8）一侧设有右轴支架（11），左轴支架（10）上安装有左陶瓷片辅助安装组件（12）且两者构成转动配合，右轴支架（11）上安装有右陶瓷片辅助安装组件（26）且两者构成转动配合，左陶瓷片辅助安装组件（12）与右陶瓷片辅助安装组件（26）结构相同且基于空腔（9）呈镜像对应；当安装陶瓷片时，左陶瓷片（13）夹在左陶瓷片辅助安装组件（12）上、右陶瓷片（14）夹在右陶瓷片辅助安装组件（26）上且左陶瓷片（13）、右陶瓷片（14）分别通过左陶瓷片辅助安装组件（12）、右陶瓷片辅助安装组件（26）放置在左试验台（7）、右试验台（8）上；测试纤维样品（15）的左端安装在左陶瓷片（13）上、右端安装在右陶瓷片（14）上，所述的左陶瓷片（13）为加热陶瓷片，左电压探针台（1）的探针抵在测试纤维样品（15）的左端，右电压探针台（2）的探针抵在测试纤维样品（15）的右端；还包括左温度传感器（21）和右温度传感器（22），所述的左温度传感器（21）粘在左陶瓷片（13）上，左温度传感器（21）与测试纤维样品（15）的左端间距小于2mm，所述的右温度传感器（22）粘在右陶瓷片（14）上，右温度传感器（22）与测试纤维样品（15）的右端间距小于2mm；还包括MCU（23），MCU（23）的串口上接有电压输出模块（24），电压输出模块（24）的输出端与左陶瓷片（13）的电压输入端相连，左温度传感器（21）、右温度传感器（22）的数据输出端分别与MCU（23）的温度数据输入端相连，左电压探针台（1）、右电压探针台（2）的电压数据输出端分别与MCU（23）的电压数据输入端相连。

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