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一种瓷绝缘子串温度分布曲线相似性度量方法、装置、电子设备及介质 

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申请/专利权人:国网湖北省电力有限公司电力科学研究院

摘要:本发明提供一种瓷绝缘子串温度分布曲线相似性度量方法、装置、电子设备及介质,该方法包括以下具体步骤:针对邻近瓷绝缘子串提取每片绝缘子的铁帽温度Tik、Tjk;获得邻近瓷绝缘子串温度分布曲线Li、Lj;计算得到相同编号绝缘子铁帽温度的差值ΔTikjk,获得离散数据组ΔT;计算得到ΔT的标准差SΔT;根据标准差SΔT度量两条瓷绝缘子串温度分布曲线的相似性。本发明通过对两条瓷绝缘子串温度分布曲线相似性的准确度量,用以评判目标瓷绝缘子串劣化状态,实现劣化瓷绝缘子串快速诊断。

主权项:1.一种瓷绝缘子串温度分布曲线相似性度量方法,其特征在于,包括如下步骤:根据针对邻近两串瓷绝缘子串红外图像,按编号提取各绝缘子串的铁帽温度Tik、Tjk,其中i、j代表绝缘子串的编号,k=1,2,...,n,代表绝缘子在串中的位置编号,导线端绝缘子位置编号为1,接地端绝缘子位置编号为n;由邻近瓷绝缘子串中每片绝缘子的铁帽温度Tik、Tjk组成两条瓷绝缘子串温度分布曲线数据组Li、Lj:Li=[Ti1,Ti2......Tik......Tin]Lj=[Tj1,Tj2......Tjk......Tjn]由两条瓷绝缘子串温度分布曲线数据组Li、Lj计算得到相同编号绝缘子铁帽温度的差值ΔTikjk,形成离散数据组ΔT:ΔTikjk=Tik-TjkΔT=[ΔTi1j1,ΔTi2j2......ΔTikjk......ΔTinjn]计算离散数据组ΔT的标准差SΔT;根据标准差SΔT度量两条瓷绝缘子串温度分布曲线的相似性。

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权利要求:

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