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申请/专利权人：中国空间技术研究院
摘要：本发明涉及一种基于双样本差值检验的元器件指标优效性的量化方法：S1、计算元器件指标SN与目标产品指标SI样本的均值和方差；步骤2：计算自由度df数值，并向上取整。根据取整之后的自由度给定置信度要求α查t分布表，得到分布值t0；步骤3：构造元器件指标优效性统计量T；步骤4：设置元器件指标优效性ΔS；步骤5：将元器件指标优效性ΔS、元器件指标SN与目标产品指标SI样本的均值和方差，代入元器件指标优效性统计量T，计算统计量T；步骤6：判断当前元器件指标优效性ΔS计算得到的元器件指标优效性统计量T是否大于等于分布值t0，如果小于t0，则调整元器件指标优效性ΔS，重复步骤5和步骤6；否则，将当前设置的元器件指标优效性ΔS确定为最终的元器件指标优效性。
主权项：1.一种基于双样本差值检验的元器件指标优效性的量化方法，所述元器件指标优效性ΔS用于表征给定置信度要求α的情况下，元器件指标SN优于目标产品指标SI的量，其特征在于包括如下步骤：S1、获取元器件指标SN与目标产品指标SI实测样本数据，计算元器件指标SN与目标产品指标SI样本的均值和方差；S2、使用元器件指标SN与目标产品指标SI实测样本数据的样品数量、方差，计算自由度df数值，并向上取整，根据取整之后的自由度给定置信度要求α查t分布表，得到分布值t0；S3、基于元器件指标SN与目标产品指标SI的均值和方差，构造元器件指标优效性统计量T；S4、设置元器件指标优效性ΔS；S5、将元器件指标优效性ΔS、元器件指标SN与目标产品指标SI样本的均值和方差，代入元器件指标优效性统计量T，计算元器件指标优效性统计量T；S6、判断当前元器件指标优效性ΔS计算得到的元器件指标优效性统计量T是否大于等于分布值t0，如果小于t0，则调整元器件指标优效性ΔS，重复步骤S5～S6；否则，将当前设置的元器件指标优效性ΔS确定为最终的元器件指标优效性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国空间技术研究院 一种基于双样本差值检验的元器件指标优效性的量化方法
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