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申请/专利权人：中国第一汽车股份有限公司
摘要：本发明公开了一种芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质。其中，该方法包括：对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；分别确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个单核整数算力性能指标和多个单核浮点算力性能指标，其中，单核整数算力性能指标用于指示单核区域块对应的整数计算性能，单核浮点算力性能指标用于指示单核区域块对应的浮点数计算性能；基于多个单核整数算力和多个单核浮点算力，确定待测试芯片的总算力性能指标，其中，总算力性能指标至少包括待测试芯片的整数算力性能和浮点算力性能。本发明解决了芯片算力测试的局限性大的技术问题。
主权项：1.一种芯片的算力性能指标的测试方法，其特征在于，包括：对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；分别确定多个所述单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个所述单核整数算力性能指标和多个所述单核浮点算力性能指标，其中，所述单核整数算力性能指标用于指示所述单核区域块对应的整数计算性能，所述单核浮点算力性能指标用于指示所述单核区域块对应的浮点数计算性能；基于多个所述单核整数算力和多个所述单核浮点算力，确定所述待测试芯片的总算力性能指标，其中，所述总算力性能指标用于指示所述待测试芯片单位时间处理的数据指令数，所述总算力性能指标至少包括所述待测试芯片的整数算力性能和浮点算力性能。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国第一汽车股份有限公司 芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质
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